科学系ニュース 薄膜X線回折による結晶の配向性の測定 結晶の配向性とは何か?どのように測定されるのか?
機器分析は物質が持つ物理的・化学的性質を精密な機器で測定し、その物質の成分や構造を分析する方法です。薄膜XRDなどでは「特定の向きを向いている結晶だけが、決まった方向にX線を跳ね返す」という性質を利用し、結晶の配向性を測定することも可能です。結晶の配向性とは何か、測定が重要な分野にはどのようなものがあるのかを知ることができます。
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