半導体

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半導体前工程:エリプソメーター エリプソメーターとは何か?光の偏光が起きる理由は何か?

半導体の重要性が増す中で、前工程装置は世界的に成長が続いています。エリプソメーターは偏光した光が試料で反射する際の偏光状態の変化を測定し、その値から膜厚を測定する装置です。偏光状態が変化する理由や有力なメーカーがどこかを知ることができます。
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半導体前工程:光干渉式の膜厚測定装置 膜厚測定装置とは何か?なぜ光の干渉から膜厚を測定できるのか? 

半導体の重要性が増す中で、前工程装置は世界的に成長が続いています。膜厚測定装置はナノからミクロンオーダーの膜厚を高精度に測定し、製品の品質管理やプロセス制御に不可欠です。光の干渉とは何か、光の干渉から膜厚を測定できる理由を知ることができます。
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半導体前工程:寸法検査装置 どのように測定するのか?光の回折限界とは何か?

半導体の重要性が増す中で、前工程装置は世界的に成長が続いています。寸法検査装置は半導体回路の線幅や穴径などをナノメートル精度で測定する装置であり、トランジスタのゲート長や配線幅といった寸法がチップの性能に直結するため重要な検査となっています。検査の方法や極めて微細な測定を行う方法を知ることができます。
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半導体前工程:パターン形成検査装置 どのような検査装置なのか?光学式と電子線式の使い分けは?

半導体の重要性が増す中で、前工程装置は世界的に成長が続いています。ウェーハ上に作られた回路パターンが設計通りか検査するための装置であるパターン形成検査装置は欠陥早期発見で歩留まりを高め、品質を保証する重要な装置です。どのように検査を行うのか、どのような種類があるのかを知ることができます。
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半導体前工程:検査工程 どのような検査があるのか?ウェーハ表面検査とは何か?

半導体の重要性が増す中で、前工程装置は世界的に成長が続いています。検査工程はウェーハ上に回路を形成する各段階で、異物、パターン異常、寸法、膜厚、電気特性などを確認する工程です。検査の種類や重要性、検査工程の一つであるウェーハ表面検査について知ることができます。
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エフピコの丈夫で柔軟なOPPフィルムの量産化 OPPフィルムとは何か?縦横に引き伸ばす意味は何か?

エフピコは丈夫で柔軟なOPPフィルムの量産化に向けた取り組みで注目されている食品トレー容器のリーディングカンパニーです。 OPPフィルムとは何かその用途や縦横に引き伸ばす意味を知ることができます。
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半導体前工程:メタライゼーションへのコバルト適用の課題 どのような課題があるのか?

半導体の重要性が増す中で、前工程装置は世界的に成長が続いています。コバルトは一部の配線層において、銅やタングステンと並ぶ、あるいはそれらを代替する重要な材料として位置づけられています。一方で、コバルトにも熱伝導性の低さなどの課題があります。どんな課題があるのか、解決方法はあるのかを知ることができます。
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半導体前工程:メタライゼーションへのコバルトの適用 コバルトの利点は何か?なぜ微細化時の抵抗増加が少ないのか?

半導体の重要性が増す中で、前工程装置は世界的に成長が続いています。コバルトは一部の配線層において、銅やタングステンと並ぶ、あるいはそれらを代替する重要な材料として位置づけられています。メタライゼーションの材料としてコバルトの優れる点やその理由を知ることができます。
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半導体前工程:銅めっきの装置 どのような装置が使用されるのか?有力なメーカはどこか?

半導体の重要性が増す中で、前工程装置は世界的に成長が続いています。銅めっきはウェーハに極めて高品質な銅膜を形成するために設計されています。どのような装置構成なのか、どのようなメーカーが有力なのかを知ることができます。
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半導体前工程:バリアメタルとしてのチタン タンタルとチタンの違いは何か?コンタクトホールとは何か?

半導体の重要性が増す中で、前工程装置は世界的に成長が続いています。バリアメタルは、半導体配線において、銅(Cu)などの金属が周囲のシリコンや絶縁膜へ拡散するのを防ぐ薄い層であり、現在ではタンタルが主に利用されていますが、一部ではチタンも使用されています。バリアメタルの必要性やチタンとタンタルの使い分けを知ることができます。